Конференция DATE

DATE (Design Automation and Test in Europe) - крупнейшая европейская комплексная конференция и выставка, объединившая академических исследователей, специалистов промышленности, пользователей и продавцов в области проектирования, автоматизации и тестирования электронных схем и систем.

История DATE  Сайт DATE  Отчеты по DATE

Отчет по DATE-2007

16-20 апреля 2007 года в Ницца (Франция) с успехом прошла десятая международная конференция DATE07 (Design Automation and Test in Europe) - крупнейшая в Европе комплексная конференция и выставка, объединившая академических исследователей, разработчиков, продавцов и пользователей в области проектирования, автоматизации и тестирования электронных схем и систем. Конференция и выставка проходили в крупнейшем выставочном комплексе Acropolis на южном побережье Франции.

В этом году программа конференции состояла из 76 секций, посвященных вопросам проектирования систем со встроенным программным обеспечением, методологиям проектирования ИС, применению готовых проектов в различных областях микроэлектроники и радиотехники, а также проблемам разработки программных продуктов САПР.

Рекордное число докладов было прислано на этот форум в этом году - 854 доклада. Из присланных были отобраны 273 лучших. Участники из более чем 50 стран мира приняли участие в конференции. Хочу также заметить, что по сравнению с предыдущими годами, значительно возросло число докладов, посвященных методологиям проектирования СБИС; примерам успешного применения готовых проектов; тестированию и верификации, начиная с системного уровня и заканчивая вопросами физического тестирования готовых кристаллов; разработке встроенного ПО.

Конференция открылась 16 апреля. 11 учебно-практических курсов прошедших в этот день в основном были посвящены проектам, использующим концепцию организацию сети различных блоков на одном чипе (networks-on-chip - NoC), гетерогенную реконфигурацию архитектур, примеры проектов с использованием технологий в 65нм и 45нм, проектирование и программирование мультипроцессорных систем на кристалле.

Основная программа конференции началась 17 апреля с церемонии открытия конференции. На первой сессии конференции были представлен доклад руководителя отдела проектирования и полупроводниковых разработок компании Toshiba, г-на Тохру Фурияма (Tohru Furuyama) посвященный проблемам использования субмикронных систем на кристалле в производстве многофункциональной цифровой электронной аппаратуры, а также доклад г-на Алана Ноймана (Alan Naumann), Президента и Главного исполнительного директора компании CoWare, посвященный вопросам использования суперпроцессорных систем для применения продуктов САПР системного уровня.

С 17 по 19 апреля прошли основные секции конференции, покрывшие широчайший круг вопросов проектирования ИС, системной интеграции микроэлектронных схем, систем и устройств, разработки средств САПР, технические решений для субмикронных проектов и т.д.. В рамках конференции этого года была проведен отдельная полномасштабная секция по применению новейших микроэлектронных разработок в космонавтике, аэронавтике и навигационных системах.

В последний день конференции были проведены 7 семинаров, посвященные проблемам разработки встроенных систем и сетей на кристалле, их тестированию, организации систем с изменяемыми параметрами на базе программируемых вентильных матриц, вопросам проектирования помехоустойчивых вычислительных наносистем и т.д.

Большинство докладов были представлены участниками из стран Западной Европы. На прошедшей конференции, к сожалению, в составе основной программы конференции не было докладов из нашей страны, но 20 апреля, в рамках семинара, проводимого под эгидой конференции, был представлен доклад российского ученого.

В экспозиции выставки приняли участие более ста ведущих мировых микроэлектронных компаний и компаний-разработчиков САПР. Выставка DATE пользуется большой популярностью и число ее фирм-экспонентов и посетителей растет год от года. В этом году число посетителей выставки превысило 3800. В рамках выставки прошли презентации новых программных продуктов и системных решений ведущих мировых продавцов САПР.

Растущее число участников конференции и выставки наглядно подтверждает тот факт, что DATE является не просто обычной европейской конференцией по проблемам САПР и проектирования ИС, а действительно глобальным научным событием мирового масштаба.