Конференция DATE

DATE (Design Automation and Test in Europe) - крупнейшая европейская комплексная конференция и выставка, объединившая академических исследователей, специалистов промышленности, пользователей и продавцов в области проектирования, автоматизации и тестирования электронных схем и систем.

История DATE  Сайт DATE  Отчеты по DATE

Отчет по DATE-2006

6-10 марта 2006 года в Мюнхене (Германия) с успехом прошла девятая международная конференция DATE06 (Design Automation and Test in Europe) - самая крупная в Европе комплексная конференция и выставка, объединившая академических исследователей, разработчиков, продавцов и пользователей в области проектирования, автоматизации и тестирования электронных схем и систем. Конференция и выставка проходили в крупнейшем в Баварии выставочном комплексе ICM Messe.

В этом году программа конференции состояла из 78 секций, посвященных вопросам проектирования систем со встроенным программным обеспечением, методологиям проектирования ИС и проблемам разработки программных продуктов САПР.

Рекордное число докладов было прислано на этот форум в 2006 г. - 834. Из присланных были отобраны 270 лучших. Участники из более чем 50 стран мира приняли участие в конференции. По сравнению с предыдущими годами, значительно возросло число докладов, посвященных проектирования СБИС, разработке встроенного ПО и тестированию ИС, начиная с системного уровня и заканчивая вопросами физического тестирования готовых кристаллов.

Конференция открылась 6 марта. 11 учебно-практических курсов прошедших в этот день в основном были посвящены проектам промышленного проектирования и моделирования ИС, представленными такими гигантами как SONY, IBM, Toshiba.

Основная программа конференции началась 7 марта с церемонии открытия конференции. На первой сессии конференции были представлен доклад руководителя отдела проектирования компании Philips Semiconductor г-на Рене Пеннинг де Врие, посвященный проблемам многократного использования готовых проектов, а также доклад г-на Уолдена Раинса, Президента и Главного исполнительного директора компании Mentor Graphics, посвященный вопросам социологии проектирования и разработки систем САПР.

С 7 по 9 марта прошли основные секции конференции, покрывшие широчайший круг вопросов проектирования ИС - от разработки структуры проекта до производства тестовых партий кристаллов; и разработки систем САПР - от функционального проектирования - до проектирования топологии. Также хочется отметить, что на конференции 2006-го года большое внимание было уделено практическим вопросам применения новых разработок в телекоммуникационной индустрии, в частности, для радиоуправляемых сенсорных сетей, а также в автомобильной электронике.

В последний день конференции были проведены 10 семинаров, посвященные проблемам организации вычислительных систем на базе программируемых вентильных матриц, вопросам проектирования межсоединений кристаллов, программным пакетам САПР, предназначенным для разработки биокристаллов и т.д.

Как и в прошлом году, большинство докладов представлено участниками из стран американского континента; из европейских стран наибольшую активность проявили ученые Западной Европы. На прошедшей конференции, к сожалению, не было докладов из России.

В экспозиции выставки приняли участие все ведущие мировые компании делящие рынок САПР электроники. Выставка DATE пользуется большой популярностью и число ее фирм-экспонентов растет год от года. В рамках выставки прошли презентации новых программных продуктов и системных решений ведущих мировых продавцов САПР.

Растущее число участников конференции и выставки наглядно подтверждает тот факт, что DATE является не просто обычной европейской конференцией по проблемам САПР и проектирования ИС, а действительно глобальным научным событием мирового масштаба.