Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Timing Analysis for Complex Digital Gates and Circuits Accounting for Transistor Degradation

Авторы
 Gavrilov S.V.
 Gudkova O.N.
 Soloviev Roman
Год публикации
 2013
Тип работы
 статья в научном журнале

Ссылка на статью
 Gavrilov S.V., Gudkova O.N., Soloviev Roman Timing Analysis for Complex Digital Gates and Circuits Accounting for Transistor Degradation. Proceedings of SEUA. Series “Information technologies, Electronics, Radio engineering”. March 2013. Issue 16. P. 84-93.

Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь

Copyright © 2012-2022 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.

Разработка сайта - ИППМ РАН