Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Coupled TCAD-SPICE Simulation of Parasitic BJT Effect on SOI CMOS SRAM SEU

Авторы
 Petrosyants K.O.
 Kharitonov I.A.
 Popov D.A.
Год публикации
 2013
Тип работы
 текст доклада на конференции

Ссылка на статью
 Petrosyants K.O., Kharitonov I.A., Popov D.A. Coupled TCAD-SPICE Simulation of Parasitic BJT Effect on SOI CMOS SRAM SEU. Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’13). Kharkov: Kharkov national university of radioelectronics, 2013. P. 312-315.

Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь

Copyright © 2012-2019 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.

Разработка сайта - ИППМ РАН