Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

The Capacitance Sensors Application for Sapphire Wafer Flatness Measurement

Авторы
 Skidanov V.A.
Год публикации
 2006
Тип работы
 текст доклада на конференции

Ссылка на статью
 Skidanov V.A. The Capacitance Sensors Application for Sapphire Wafer Flatness Measurement. Digest of the XX Conference "Eurosensors-2006" Proceedings / Gothenborg, Sweden, 17-20 Sept. 2006 – p.p. 394-395

Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь

Copyright © 2012-2019 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.

Разработка сайта - ИППМ РАН