Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Листинг всех работ автора. Нажмите на название работы чтобы получить по ней полную информацию.

Гудкова О.Н. (Gudkova O.N.)
2007 
 Гудкова О.Н.
Исследование влияния функционального состава библиотеки на параметры проектируемых устройств
2008 
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Каграманян Э.Р.
Методы логико-временного анализа цифровых СБИС с учетом эффектов деградации транзисторов
 Гудкова О.Н., Гаврилов С.В.
Логико-временной анализ надежности цифровых СБИС с учетом эффектов деградации NBTI и HCI
 Gudkova O.N.
Logical timing analysis of digital IC reliability with NBTI and HCI degradation effects
 Гудкова О.Н.
Методы анализа состава библиотек стандартных ячеек БИС
2009 
 Каграманян Э.Р., Гудкова О.Н.
Разработка модели деградации временных параметров цифровых элементов для статического временного анализа нанометровых СБИС
 Стемпковский А.Л., Глебов А.Л., Гаврилов С.В., Гудкова О.Н.
Вероятности напряженного состояния транзисторов для временного анализа с учетом электротемпературной нестабильности
2010 
 Гудкова О.Н., Скачкова Е.П., Муханюк Н.Н., Гаврилов С.В., Соловьев Р.А.
Методы ускоренной характеризации больших параметризованных сложно-функциональных блоков
 Гудкова О.Н., Гаврилов С.В., Егоров Ю.Б.
Метод аппроксимации сечений для оптимизации характеризационной сетки при проектировании библиотек элементов
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Егоров Ю.Б.
Методы ускоренной характеризации библиотек элементов СБИС с контролем заданной точности
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Егоров Ю.Б.
Статистический анализ сложных функциональных блоков
 Гудкова О.Н., Королев К.Г.
Метод статистического моделирования сложных функциональных блоков БИС
 Гудкова О.Н., Скачкова Е.П.
Контроль точности макромоделей при характеризации библиотечных элементов с проектными нормами в нанометровом диапазоне
2011 
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Методы анализа деградации транзисторов во времени для нанометровых технологий
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Анализ деградации параметров транзисторов во времени на логическом уровне
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Параметрическая модель для анализа эффектов деградации порогового напряжения транзистора
2012 
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Северцев В.Н.
Интервальный статический временной анализ КМОП-схем с учетом логических корреляций
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Пирютина Г.А.
Метод анализа быстродействия вентилей с учетом одновременного переключения входов
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Стемпковский А.Л.
Анализ быстродействия нанометровых сложно-функциональных блоков на основе интервального моделирования
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н.
Программа NL-PrAn анализа логических состояний в КМОП-схемах на основе вероятностного подхода (№2012611697)
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Соловьев Р.А.
Программа NL-LCA автоматического поиска и генерации логических ограничений в КМОП-схемах (№2012611913)
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Аппарат характеристических функций интервалов для контроля логической совместимости путей распространения сигналов
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Метод распространения задержек вдоль схемы на основе логико-временных интервалов
 Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Логико-временной анализ нанометровых схем на основе интервального подхода
2013 
 Gavrilov S.V., Gudkova O.N., Soloviev Roman
Timing Analysis for Complex Digital Gates and Circuits Accounting for Transistor Degradation
 Gavrilov S.V., Gudkova O.N., Stempkovsky A.L.
The Analysis of the Performance of Nanometer Intellectual Property Blocks Based on Interval Simulation  
 

Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь

Copyright © 2012-2019 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.

Разработка сайта - ИППМ РАН