Конференция DATE

DATE (Design Automation and Test in Europe) - крупнейшая европейская комплексная конференция и выставка, объединившая академических исследователей, специалистов промышленности, пользователей и продавцов в области проектирования, автоматизации и тестирования электронных схем и систем.

История DATE  Сайт DATE  Отчеты по DATE

Отчет по DATE-2009

20-24 апреля 2009 года в г.Ницца (Франция) с успехом прошла двенадцатая международная конференция DATE 2009 (Design Automation and Test in Europe) - крупнейшая в Европе комплексная конференция и выставка, объединившая академических исследователей, разработчиков, продавцов и пользователей в области автоматизации проектирования, тестирования электронных схем и систем. Конференция и выставка проходили в крупнейшем выставочном комплексе Acropolis на южном побережье Франции.

В этом году программа конференции состояла из 77 секций, включая 15 специализированных, посвященных вопросам методологии проектирования микроэлектронных систем, тестирования и верификации проектных решений, применению готовых проектов в различных областях микроэлектроники и радиоэлектроники, проблемам разработки программных средств САПР, разработке и внедрению встраиваемого программного обеспечения. Особое внимание было уделено представлению успешных проектов, выполненных в виде систем на кристалле, новым разработкам многоядерных процессорных устройств и их применению, особенно в беспроводных средствах связи.

На форум 2009 года было прислано 965 докладов, что на 15% больше, чем в 2008 году. Из них были отобраны 277 лучших, что составляет около 25% от числа представленных. Это свидетельствует о высочайшем рейтинге конференции и ее качестве. В конференции приняли участие специалисты из более чем 70 стран мира. Наибольшее число докладов было представлено по следующим темам: разработка сетевых решений на кристалле; проектирование микромощных СБИС, разработка реконфигурируемых систем; архитектуры, инструментарии и методы разработки встраиваемых программных продуктов; применение успешных готовых проектов.

Конференция открылась 20 апреля. 11 учебно-практических курсов, прошедших в этот день, в основном были посвящены вопросам проектирования, анализа и синтеза многопроцессорных встраиваемых систем, новым тенденциям и направлениям в проектировании микромощных ИС, проблемам тестирования и самонастройки аналогово-цифровых радиочастотных схем и систем.

Основная программа конференции началась 21 апреля с церемонии открытия конференции Генеральным председателем Технического комитета DATE 2009, проф. Люкой Бенини (Luca Benini), Университет г.Болонья, Италия (рис.2). На первой сессии конференции был представлен обзорный доклад Главного технического директора компании ARM г-на Майка Мюллера (Mike Muller), посвященный 25-летнему опыту ведущих мировых разработчиков микроэлектронных схем и современным тенденциям развития микроэлектроники, а также доклад г-на Джозефа Сифакиса (Joseph Sifakis), Национальный центр научных исследований Франции, посвященный научно-техническим достижениям в проектировании встраиваемых систем, их функциональности, производительности и стоимости.

С 21 по 23 апреля прошли основные секции конференции, по широчайшему кругу вопросов проектирования ИС, системной интеграции микроэлектронных схем, систем и устройств, разработки средств САПР, технических решений для субмикронных проектов, тестированию проектных решений и т. д.

В последний день конференции были проведены 8 семинаров, посвященных проблемам разработки архитектурных и технологических решений для сетей на кристалле (NOC), микромощным ИС, разработке программных средств САПР, глобальным асинхронным и локальным синхронным системам и т.д.

Большинство докладов, как обычно, были представлены участниками из стран Западной Европы, а также США и Канады.

В выставке приняли участие более шестидесяти ведущих мировых микроэлектронных компаний и компаний-разработчиков САПР и ряд небольших компаний и университетских групп, предлагающих уникальные новые продукты и разработки. Выставка DATE пользуется большой популярностью. Число ее фирм-экспонентов и посетителей растет год от года. В этом году общее число посетителей конференции и выставки превысило 2400.

В рамках выставки прошли презентации новых программных продуктов и системных решений ведущих мировых продавцов САПР.

Растущее число участников конференции и выставки наглядно подтверждает тот факт, что DATE является не просто обычной европейской конференцией по проблемам САПР и проектирования ИС, а действительно глобальным научным событием мирового масштаба.

Более подробную информацию по DATE-2009 можно посмотреть на сайте конференции.