Конференция DATE

DATE (Design Automation and Test in Europe) - крупнейшая европейская комплексная конференция и выставка, объединившая академических исследователей, специалистов промышленности, пользователей и продавцов в области проектирования, автоматизации и тестирования электронных схем и систем.

История DATE  Сайт DATE  Отчеты по DATE

Отчет по DATE-2005

7-11 марта 2005 года в Мюнхене (Германия) с успехом прошла восьмая международная конференция DATE05 (Design Automation and Test in Europe) - самая крупная в Европе комплексная конференция и выставка, объединившая академических исследователей, разработчиков, продавцов и пользователей в области проектирования, автоматизации и тестирования электронных схем и систем.

Основная программа конференции была распределена на 80 секций и подсекций и охватила все основные направления развития и применения САПР, а также вопросы внедрения новых технологий, тестирования и многократного использования готовых проектов. На конференции большое внимание было уделено применениям новых разработок и систем в современных нано- и биотехнологиях, медицине, автомобильном производстве, космической промышленности. В дополнение к основной научно-технической программе было проведено большое количество различных мероприятий и тренингов в дни перед и после конференции: 12 традиционных учебных курсов; 2 мастер-курса, посвященных вопросам внедрения новых высокоэффективных технологий для контроля потери мощности в КМОП-проектах и современных методов проектирования с применением языка SystemC; симпозиум по новым тенденциям в индустрии разработки и производства печатных плат; форум инженеров-дизайнеров, представивших свои последние разработки. Прошли заседания и симпозиумы различных международных организаций, ассоциаций и рабочих групп, которые были специально приурочены к датам конференции.

Приведем некоторые статистические данные о конференции. Всего было прислано 726 докладов по основной программе конференции и 99 докладов - на форум дизайнеров, что примерно на 4% больше, чем на DATE 04, прошедшем в г. Париже в феврале 2005 г. и на 40% больше, чем на DATE 04. Из них в программу конференции были включены 218 докладов и 130 интерактивных презентаций. Из года в год растет число технических специалистов и менеджеров среднего и высшего руководящего звена, посещающих DATE. Это говорит о том, что конференция является не только форумом последних научных и технических идей, но и местом представления результатов реальных проектов, внедренных разработок, инновационных решений, примененных и апробированных на практике. Большой интерес был проявлен к пленарному заседанию, на котором был представлен доклад "SoC in Nano Era" вице-президента Отдела полупроводниковых изделий корпорации SAMSUNG г-на Jeong-Taek Kong и доклад "Striking a New Balance in the Nanometer Era" вице-президента Отделения по производству заказных схем компании IBM г-на Garry Hughes, а также к интерактивной сессии. На этой сессии был проведен опрос о том, какие направления с точки зрения участников конференции наиболее перспективны для рынка микроэлектронных изделий и САПР в настоящее время.

Как и в прошлом году, более трети докладов представлено участниками из стран американского континента; из европейских стран наибольшую активность проявили ученые Западной Европы. На прошедшей конференции, к сожалению, не было представлено докладов из России.

В экспозиции выставки приняли участие все ведущие мировые компании, делящие рынок САПР электроники. Выставка DATE пользуется большой популярностью, и число ее фирм-экспонентов растет год от года. В рамках выставки прошли презентации новых программных продуктов и системных решений ведущих мировых продавцов САПР.